[发明专利]一种扫描架平面度校准装置及其校准方法在审

专利信息
申请号: 201810518232.4 申请日: 2018-05-27
公开(公告)号: CN108645381A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 钱金堂 申请(专利权)人: 南京艾文森电子科技有限公司
主分类号: G01C9/06 分类号: G01C9/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210000 江苏省南京市秦*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种扫描架平面度校准装置,包括激光发射器和Z轴采集架,所述Z轴采集架的一侧活动连接有磁性表座,且磁性表座远离Z轴采集架的一侧活动连接有激光接收器,所述激光发射器发射有旋转激光光束,S1、首先将激光接收器通过磁性表座放置在Z轴采样架上,涉及激光测量技术领域。该扫描架平面度校准装置及其校准方法,可很好的解决现有对空间平面度的测量只能使用双经纬仪或者激光跟踪仪进行测量的问题,大大降低了仪表价格的昂贵性,对测试人员的专业水平要求相对较低,因此十分适合小规模公司的使用,同时很好的实现了缩短调整周期,达到了提高扫描架的平面度的目的,从而大大方便了人们对扫描架的校准工作。
搜索关键词: 扫描架 平面度 磁性表座 校准装置 采集架 校准 活动连接有 激光发射器 激光接收器 测量 经纬仪 激光测量技术 激光跟踪仪 调整周期 空间平面 旋转激光 专业水平 采样 仪表 测试 发射
【主权项】:
1.一种扫描架平面度校准装置,包括激光发射器(1)和Z轴采集架(2),其特征在于:所述Z轴采集架(2)的一侧活动连接有磁性表座(3),且磁性表座(3)远离Z轴采集架(2)的一侧活动连接有激光接收器(4),所述激光发射器(1)发射有旋转激光光束(5)。
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