[发明专利]基于局部二值模式的电线检测方法有效
申请号: | 201810520384.8 | 申请日: | 2018-05-28 |
公开(公告)号: | CN108805050B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 李元祥;刘嘉玮;刘运凯;周拥军 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种基于局部二值模式的电线检测方法,包括:读入灰度图像,该灰度图像是一个二维矩阵;使用5×5区域的移动平均法计算整张灰度图像上的局部阈值;进行三次不同尺度的LBP计算;综合三次LBP计算的结果,得出疑似电线的部分;对疑似电线的部分进行结果聚类,去除伪目标。本发明通过向量化编程来提升处理效率;重新设计了LBP方法的阈值选取策略,与经典的移动平均法相结合;采取综合多个不同尺度LBP算子的方式来提升方法的稳定性。通过密度聚类分析对电线检测结果去除伪目标,最终提取出电线。对于大多数图像都能实现电线的快速检测,对于一张尺寸为1920*1080的图像处理时间大致在2s左右。 | ||
搜索关键词: | 基于 局部 模式 电线 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于局部二值模式的电线检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1,将三通道可见光图像转为灰度图像,并将灰度图像归一化得到二维矩阵I;步骤S2,利用局部的标准差作为计算灰度图像全图的局部阈值,同时滤去标准差不满足要求的部分;步骤S3,采取局部阈值进行LBP计算:步骤S3.1,设定LBP算子环半径r和算子环上采样点相隔的角度θ,总共有360°/θ个采样点,若中心点坐标为(x0,y0),那么LBP算子环上第k个采样点的坐标为(x0+Δxk,y0+Δyk),其中采样点与中心点的相对坐标偏移Δxk和Δyk如下:步骤S3.2,第k个采样点构成的矩阵为Ik,其中坐标为(x,y)的点的值Ik(x,y)由矩阵I平移得到:步骤S3.3,设坐标为(x,y)的中心点与算子环上第k个采样点的灰度差值分别为vk,相邻的vk正负符号相反情况的数量即突变数为t1,算子环上k个采样点中:与中心点灰度值差值的绝对值小于局部阈值的采样点个数为t2,比中心点灰度值大的采样点个数为t3,其中:设:条件一,当突变数t1=4时,vk与vk‑1正负符号相反的情况出现了四处;条件二,设定局部阈值T,存在t2个满足|vk|≤T(x,y)的与中心点灰度值相近的采样点,T(x,y)为中心点处的局部阈值,设置t2小于总采样点数的一半;条件三,其余采样点应当同时比中心点灰度值大或比中心点灰度值小,其余采样点指的是除去条件二中统计过的t2个采样点之外的其他点;其中,比中心点灰度值大的其余采样点的个数t3的值需要大于等于总点数的3/4或者小于等于总点数的1/4;每个坐标位置为(x,y)的中心点,得到满足条件的单次LBP结果S1(x,y)为:步骤S3.4,调整算子环半径r和角度θ,重复步骤S3.1至S3.3两次,得到单次LBP结果矩阵S2和S3,综合得到结果矩阵S0,对于每个坐标位置(x,y),S0(x,y)值计算方式如下:步骤S4,重复步骤S3进行两次不同尺度的LBP计算,综合三次结果得到一张二值图;步骤S5,对步骤S4中得到的二值图进行密度聚类分析,再按照8连通区域分析、合并结果,得到检测结果二值图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810520384.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种嵌入式人脸检测终端
- 下一篇:一种显示面板及显示装置