[发明专利]一种均匀光源角均匀性测试装置及方法在审
| 申请号： | 201810521754.X | 申请日： | 2018-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN108776002A | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 昌明;赵建科;薛勋;周艳;李晶;曹昆;胡丹丹;宋琦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于光学测试领域，涉及一种均匀光源角均匀性测试装置及方法，解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面，造成投入过高、资源浪费的问题。本发明的技术解决方案是：一种均匀光源角均匀性测试装置，包括X‑Y二维扫描架、旋转平台、光亮度探测器和控制计算机；X‑Y二维扫描架包括横板和竖板，竖板垂直设置在横板上，且竖板可沿横板轴向往复运动；旋转平台设置在竖板上，旋转平台可沿竖板轴向往复运动，还可在竖板上转动，光亮度探测器设置在旋转平台上；控制计算机控制竖板沿横板轴向、旋转平台沿竖板轴向运动的位移量及旋转平台的转动角度。本发明同时还提供了一种均匀光源角均匀性测试装置的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 竖板 旋转平台 均匀性测试装置 均匀光源 横板 光亮度探测器 轴向往复运动 控制计算机 二维扫描 转动 垂直设置 光学测试 弧形导轨 轴向运动 出射面 位移量 适配 轴向 测试 | ||
【主权项】：
1.一种均匀光源角均匀性测试装置，其特征在于：包括X‑Y二维扫描架(1)、旋转平台(2)、光亮度探测器(3)和控制计算机(4)；所述X‑Y二维扫描架(1)包括横板(101)和竖板(102)，竖板(102)垂直设置在横板(101)上，且竖板(102)可沿横板(101)的轴向往复运动；旋转平台(2)设置在竖板(102)上，旋转平台(2)可沿竖板(102)的轴向往复运动，还可在竖板(102)上转动，光亮度探测器(3)设置在旋转平台(2)上；控制计算机(4)控制竖板(102)沿横板(101)轴向、旋转平台(2)沿竖板(102)轴向运动的位移量及旋转平台(2)的转动角度。
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