[发明专利]RFID标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法在审

专利信息
申请号: 201810522093.2 申请日: 2018-05-28
公开(公告)号: CN108761236A 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 张东;陈燕宁;付振;张海峰;原义栋;李建强 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 周勇;张鹏
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法。所述性能测试系统包括:热流罩高低温装置,用于对空气进行加热或制冷;热传导装置,通过第一导管与所述热流罩高低温系统相连接,将所述热流罩高低温系统产生的冷热空气进行传输;以及隔热装置,通过第二导管与所述热传导装置相连接,该隔热装置用于容纳所述RFID标签以对其进行高温或低温性能测试。根据本发明的实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统,可以有效评测高低温环境对RFID标签性能的影响,对生产实践有重要的指导意义。
搜索关键词: 高低温 性能测试系统 热流 热传导装置 隔热装置 导管 低温性能测试 高低温环境 测试 冷热空气 生产实践 系统产生 评测 加热 制冷 容纳 传输
【主权项】:
1.一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统,其特征在于,包括:热流罩高低温装置,用于对空气进行加热或制冷;热传导装置,通过第一导管与所述热流罩高低温系统相连接,将所述热流罩高低温系统产生的冷热空气进行传输;以及隔热装置,通过第二导管与所述热传导装置相连接,该隔热装置用于容纳所述RFID标签以对其进行高温或低温性能测试。
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