[发明专利]基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法有效
| 申请号： | 201810523419.3 | 申请日： | 2018-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN108844920B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 吴德林;吴志强 | 申请（专利权）人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人： | 蒲敏 |
| 地址： | 610100 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法，包括以下步骤：1)采用折射率V棱镜测试的计算公式，通过对折射率和折射角关系的微分运算，求出折射率组批范围△n，对应折射角度变化△θ；2)求出折射角度变化△θ在平行光管焦面上的位移△y；3)根据折射率不同的组批分档和与之对应的△y，在分划板上分档刻线，将折射率的组批分档转换成分划板角度刻线分档；4)进行分划板角度刻线分档测试，从而实现折射率组批分档测试。本发明根据折射率组批范围要求和平行光管焦距参数计算分划板上角度间距，并刻线分档，刻线条数根据折射率组批档数确定，从而实现折射率组批高精度快速测试，使折射率组批变得快速、准确和直观。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 分划板 角度 分档 棱镜 折射率 测试 | ||
【主权项】：
1.基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1)采用折射率V棱镜测试的计算公式，通过对折射率和折射角关系的微分运算，求出折射率组批范围△n对应折射角度变化△θ；2)求出折射角度变化△θ在平行光管焦面上的位移△y；3)根据折射率不同的组批分档和与之对应的△y，在分划板上分档刻线，将折射率的组批分档转换成分划板角度刻线分档；4)进行分划板角度刻线分档测试，从而实现折射率组批分档测试。
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