[发明专利]一种应用于夹具参数提取的相位计算方法

摘要

本发明公开了一种应用于夹具参数提取的相位计算方法，属于测试技术领域，包括如下步骤：由各频点S参数的实部、虚部得到相位值；对各频点S参数的相位进行线性展开；对相位进行阈值判断；计算相位变化的斜率；利用0频下相位，计算偏置相位；计算开平方的相位。本发明不需预先知道夹具的延时，不需要人为输入参数用于求解，减少了测试步骤，提高了测试效率。

主权项

1.一种应用于夹具参数提取的相位计算方法，其特征在于：包括以下步骤：/n步骤1：由各频点S参数的实部、虚部得到相位值，计算公式如下：/n /n其中，为S参数相位值；a为S参数实部数据；b为S参数虚部数据；/n步骤2：对各频点S参数的相位进行线性展开；/n /n其中，是周期扩展的相位；是原始相位；i为频点，i＝2,…,N；N为最后一个频点；j为周期数；/n步骤3：对步骤2中的相位进行阈值判断；/n计算前一频点的线性化相位与当前频点的周期扩展相位之差，记作Δ_i：/n /n其中，i为频点，i＝2,…,N；N为最后一个频点；/n当相位差值Δ_i大于阈值δ时，周期数j增加1，当前频点线性相位等于周期扩展相位加2π；/n当相位差值Δ_i小于负阈值-δ时，周期数j减小1，当前频点线性相位等于周期扩展相位减2π；/n /n其中，为线性化的相位；是周期扩展的相位；Δ_i为相位差值；δ为相位差阈值；i为频点，i＝2,…,N；N为最后一个频点；j为周期数；/n步骤4：计算相位变化的斜率；/n由于相位线性变化，所以利用第一个频点的线性化相位和最后一个频点的线性化相位计算相位变化的斜率k：/n /n其中，k为线性相位变化的斜率；分别为最后一个频点和第一个频点的线性相位；f_N、f₁分别为最后一个频点和第一个频点的频率；N为最后一个频点；/n步骤5：利用0频下相位，计算偏置相位；/n由于相位线性变化，所以：/n /n其中，k为线性相位变化的斜率；为第一个频点的偏置相位；为频率0时的相位；f₁为第一个频点的频率；f₀为频率0时的频率；/n由于f₀＝0，且直流时被测件对应相位为0，即所以，对所有频点相位增加偏置：/n /n其中，为第t个频点的偏置相位；f_t为第t个频点的频率；k为线性相位变化的斜率；分别为最后一个频点和第一个频点的线性相位；f_N、f₁分别为最后一个频点和第一个频点的频率；t为频点，t＝1,…,N；N为最后一个频点；/n步骤6：计算开平方的相位；/n将步骤5中的偏置相位除以2即得到开平方的相位。/n