[发明专利]一种IGBT芯片的PN结击穿电压测试系统及方法在审
| 申请号： | 201810531705.4 | 申请日： | 2018-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN108627744A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 李为民 | 申请（专利权）人： | 四川蓝芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 成都巾帼知识产权代理有限公司 51260 | 代理人： | 潘文林 |
| 地址： | 629000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IGBT芯片的PN结击穿电压测试系统及方法，所述系统包括：一带温控功能的电加热板，用于放置待测IGBT芯片，调节IGBT芯片的温度；一恒压直流电源，其正极与IGBT芯片的栅极连接，负极与IGBT芯片发射极相连；一可调压直流电源，其正极与IGBT芯片的发射极相连，负极与IGBT芯片的集电极相连；一电流传感器，串联在IGBT芯片的集电极与可调直流电源之间；一电压传感器，并联在IGBT芯片的发射极与集电极之间；一测试中心，其输入端分别与所述电流传感器和电压传感器的输出端连接，输出端与温控加热板和可调压直流电源连接。本发明考虑了温度对击穿电压的影响，且检测方法简单，检测准确性高。 | ||
| 搜索关键词： | 发射极 集电极 可调压直流电源 击穿电压测试 正极 电流传感器 电压传感器 负极 恒压直流电源 可调直流电源 输出端连接 温控加热板 测试中心 电加热板 击穿电压 温控功能 栅极连接 输出端 输入端 检测 串联 | ||
【主权项】：
1.一种IGBT芯片的PN结击穿电压测试系统，其特征在于：包括：一带温控功能的电加热板，用于放置待测IGBT芯片，调节IGBT芯片的温度；一恒压直流电源，其正极与IGBT芯片的栅极连接，负极与IGBT芯片发射极相连；一可调压直流电源，其正极与IGBT芯片的发射极相连，负极与IGBT芯片的集电极相连；一电流传感器，串联在IGBT芯片的集电极与可调直流电源之间；一电压传感器，并联在IGBT芯片的发射极与集电极之间；一测试中心，其输入端分别与所述电流传感器和电压传感器的输出端连接，输出端与电加热板和可调压直流电源连接，用于控制电加热板的温度，并在不同温度下，控制可调压直流电源电压逐步增大，实现PN结击穿电压的测试和记录，并生成温度与击穿电压的关系曲线进行显示。
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