[发明专利]偏斜检测器有效
申请号: | 201810533335.8 | 申请日: | 2018-05-29 |
公开(公告)号: | CN108955617B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 张文儒 | 申请(专利权)人: | 潍坊科技学院 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22;G01B21/02 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 许浩达 |
地址: | 262700 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种偏斜检测器,所述支架下面万向铰接探针;所述支架上面安装Y向导轨,Y向导轨套装于XY位移滑块下面,Y向导轨沿着XY位移滑块作Y向移动;所述XY位移滑块上面套装X向导轨,支架联动XY位移滑块沿着X向导轨作X向移动。支架联动XY位移滑块沿着X向导轨作X向移动且支架在Y向导轨导向下着XY位移滑块作Y向移动,当探针摆动时,驱动支架沿着X、Y向产生位移检测偏移量,最终通过偏移量传感器和角度传感器得出二维位移量和角度测量数据,实现了在一部检测设备上一次性直接测出二维位移量和角度测量数据,具有结构简单、测量精度高、检测效率高等特点。 | ||
搜索关键词: | 偏斜 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种偏斜检测器,包括支架,其特征在于:所述支架下面万向铰接探针;所述支架上面安装Y向导轨,Y向导轨套装于XY位移滑块下面,Y向导轨沿着XY位移滑块作Y向移动;所述XY位移滑块上面套装X向导轨,支架联动XY位移滑块沿着X向导轨作X向移动;当探针摆动时,驱动支架沿着X、Y向产生位移检测偏移量。
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