[发明专利]元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 201810539719.0 | 申请日： | 2018-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN108829947A | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 申海东;解江;张泽;吴雪珂;王毅;陈宇俊;陈科雯 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 明霖 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度；待测对流换热系数为处理初始对流换热系数与预设洁净度得到的；初始对流换热系数为通过仿真获取到的、处于预设环境温度且无积尘状态下的待评价元器件的系数；在工作温度大于待评价元器件的最高使用温度时，确定待评价元器件存在超温风险。本发明元器件可靠性评价方法各实施例中，能够较好的评价产品内部元器件表面积尘后对其发热的影响；可以在物理样机生产之前发现产品潜在热设计薄弱环节，并验证分析，避免物理试错，降低生产成本；试验周期短，加快产品开发速度。 | ||
| 搜索关键词： | 对流换热系数 预设 元器件 元器件可靠性 计算机设备 存储介质 洁净度 设计薄弱环节 内部元器件 产品开发 积尘状态 试验周期 物理样机 潜在热 超温 积尘 发热 验证 申请 分析 发现 生产 | ||
【主权项】：
1.一种元器件可靠性评价方法，其特征在于，包括：根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度；所述待测对流换热系数为处理初始对流换热系数与所述预设洁净度得到的；所述初始对流换热系数为通过仿真获取到的、处于所述预设环境温度且无积尘状态下的所述待评价元器件的对流换热系数；在所述工作温度大于所述待评价元器件的最高使用温度时，确定所述待评价元器件存在超温风险。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）），未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810539719.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于动态补偿技术的推力计算方法
- 下一篇：坏点库的建立方法和建立系统
