[发明专利]非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置有效

专利信息
申请号: 201810540405.2 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN108827511B 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 衡月昆;李楠;蔡志岩;刘术林 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00;G01L1/24
代理公司: 11435 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 郭栋梁
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种非晶体透明材料内应力的测量方法,测量方法包括:S20:对待测件上的测量区施加偏振光,获取偏振光在待测件上产生的双折射偏振光之间的光程差,并根据光程差与内应力值的对应关系获取测量区的内应力值。本申请提供的非晶体透明材料内应力的测量方法及测量装置,通过采用偏振光干涉方法与光谱分析方法的结合以获取偏振光的光程差与内应力值之间的函数关系,并通过该函数关系反向获取非晶体透明材料的内应力值,实现了对非晶体透明材料内应力的定量测量。同时,采用光谱分析的方法进行测量,避免了现有技术中色干涉法颜色比对中由于人工及显示设备颜色系统标度偏差,提高了测量精度。
搜索关键词: 透明材料 非晶体 偏振光 测量 光程差 测量装置 光谱分析 函数关系 测量区 偏振光干涉 定量测量 关系获取 显示设备 颜色比对 颜色系统 待测件 干涉法 双折射 标度 申请 施加
【主权项】:
1.一种非晶体透明材料内应力的测量方法,其特征在于,包括:/nS11:对标准件施加偏振光,分别测量所述偏振光在所述标准件具有不同内应力值时的透射光谱Q
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