[发明专利]GaN基垂直型功率晶体管器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201810544039.8 申请日: 2018-05-28
公开(公告)号: CN108807542A 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 刘新宇;王成森;黄森;王鑫华;康玄武;魏珂;黄健 申请(专利权)人: 捷捷半导体有限公司;中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 226017 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开提供了一种GaN基垂直型功率晶体管器件及其制作方法;其中,所述GaN基垂直型功率晶体管器件,包括:N型GaN衬底;形成于N型GaN衬底上的N型GaN外延层;形成于N型GaN外延层上的Al(In,Ga)N背势垒层;形成于Al(In,Ga)N背势垒层上的薄势垒Al(In,Ga)N/GaN异质结构;形成于所述薄势垒Al(In,Ga)N/GaN异质结构上的钝化层以及栅极和源极,形成于N型GaN衬底上的漏极。本公开GaN基垂直型功率晶体管器件及其制作方法有效降低了GaN基垂直型功率晶体管的工艺难度,从而使其兼容常规GaN基横向器件的工艺,推动了GaN基垂直型功率晶体管在更高电流和功率转换中的应用。
搜索关键词: 垂直型功率 晶体管器件 衬底 异质结构 势垒层 晶体管 势垒 制作 工艺难度 功率转换 横向器件 钝化层 高电流 漏极 源极 兼容 应用
【主权项】:
1.一种GaN基垂直型功率晶体管器件,包括:N型GaN衬底;形成于所述N型GaN衬底上的N型GaN外延层;形成于所述N型GaN外延层上的Al(In,Ga)N背势垒层;形成于所述Al(In,Ga)N背势垒层上的薄势垒Al(In,Ga)N/GaN异质结构;形成于所述薄势垒Al(In,Ga)N/GaN异质结构上的钝化层以及栅极和源极,形成于所述N型GaN衬底上的漏极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于捷捷半导体有限公司;中国科学院微电子研究所,未经捷捷半导体有限公司;中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810544039.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top