[发明专利]一种精确测量超冷分子离解能的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201810547566.4 申请日: 2018-05-31
公开(公告)号: CN108982429B 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 元晋鹏;汪丽蓉;王三丹 申请(专利权)人: 山西大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 代理人: 王瑞玲;赵江艳
地址: 030006*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明属于超冷分子能级测量技术领域,提出了一种精确测量分子离解能的装置和方法。该装置包括第一激光器、第二激光器、飞秒光学频率梳、第一分光平片、第二分光平片、光栅、探测器和频谱仪,所述第一激光器发出的第一激光和第二激光器发出的第二激光分别经第一分光平片后重合形成第一重合光和第二重合光,其中第一重合光入射到超冷分子样品池,第二重合光和飞秒光学频率梳发出的光通过第二分光平片后重合形成第三重合光(14)并发生拍频,拍频信号由探测器探测后发送到频谱仪。本发明可以实现超冷振转基态分子离解能的快速、精确测量。
搜索关键词: 一种 精确 测量 分子 离解 装置 方法
【主权项】:
1.一种精确测量超冷分子离解能的装置,其特征在于,包括第一激光器(1)、第二激光器(11)、飞秒光学频率梳(3)、第一分光平片(10)、第二分光平片(4)、光栅(8)、探测器(5)和频谱仪(6),所述第一激光器(1)发出的第一激光和第二激光器(11)发出的第二激光经第一分光平片(10)后重合,并分别形成第一重合光(12)和第二重合光(13),其中第一重合光(12)入射到超冷分子样品池(9),第二重合光(13)入射到第二分光平片(4),飞秒光学频率梳(3)发出的光和第二重合光(13)通过第二分光平片(4)后重合形成第三重合光(14)并发生拍频,拍频后的第三重合光(14)通过光栅(8)进行空间频率选模,然后经光阑(7)进行空间滤波后由探测器(5)探测,探测器(5)将拍频信号转化为电信号后发送到频谱仪(6),所述第一激光器(1)发出的激光频率覆盖超冷分子的基态|E1>和激发态|E2>共振频率,所述第二激光器(11)发出的激光频率覆盖超冷分子的激发态|E2>和基态|G,0,0>共振频率。
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