[发明专利]一种前后双目的位置姿态光学测量结构与方法有效
| 申请号： | 201810549491.3 | 申请日： | 2018-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN108731593B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 张新宝 | 申请（专利权）人： | 武汉环汉机电工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01C1/00 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 王福新 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖新*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种前后双目的位置姿态光学测量结构，包括准直光束(1)和机架(9)，所述机架(9)内沿所述准直光束(1)入射方向前后设有前光学传感器(3)和后光学传感器(7)，所述机架(9)内还设有分光镜(2)、第一反光镜(4)、与所述第一反光镜(4)垂直的第二反光镜(5)和与所述第二反光镜(5)平行的介于所述前光学传感器和后光学传感器(7)之间的第三反光镜(6)，且所述前光学传感器(3)和后光学传感器(7)的光敏面与被测对象的轴线平行。本发明还公开了一种前后双目的位置姿态光学测量方法。本发明前后双目的位置姿态光学测量结构，实现对窄长孔的位置姿态的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 前后 双目 位置 姿态 光学 测量 结构 方法 | ||
【主权项】：
1.一种前后双目的位置姿态光学测量结构，用于检测窄长孔状的位置姿态信息，包括准直光束(1)，其特征在于，还包括计算处理单元(10)和设于被测对象内的机架(9)；所述机架(9)内沿所述准直光束(1)入射方向设有与所述计算处理单元(10)电气连接且光敏面相互平行的前光学传感器(3)和后光学传感器(7)；所述机架(9)内还设有位于所述准直光束(1)入射端和所述前光学传感器(3)之间的分光镜(2)、位于所述分光镜(2)反射光路范围内并与所述分光镜(2)平行的第一反光镜(4)、位于所述第一反光镜(4)的反射光路范围内并与所述第一反光镜(4)垂直的第二反光镜(5)和位于所述第二反光镜(5)的反射光路范围内并与所述第二反光镜(5)平行的介于所述前光学传感器和后光学传感器(7)之间的第三反光镜(6)，且所述前光学传感器(3)和后光学传感器(7)的光敏面与被测对象的轴线垂直，以通过前光学传感器(3)和后光学传感器(7)拍摄到自身相对准直光束及其截面光斑中心的位置偏差计算出出被测对象的位置姿态信息。
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