[发明专利]飞行时间质谱仪中由热漂移导致的质量差错校正有效

专利信息
申请号: 201810551382.5 申请日: 2018-05-31
公开(公告)号: CN108987238B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: C·A·霍克;H·斯图尔特;M·比尔;O·兰格 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/40;G01N27/62
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈洁;姬利永
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开一种考虑到温度变化而校准TOF‑MS质谱的方法。将离子引入到傅里叶变换质谱仪中,并且确定它们的质荷比。还将包含校准离子的离子引入到飞行时间质谱仪中,并且还至少确定所述校准离子的质荷比。选择并在所述TOF MS和FTMS谱之间匹配表示校准离子的特定峰。接着,基于所述FTMS谱相对于温度的相对独立性,使用每一个谱中的匹配峰的相对位置来确定所述TOF MS数据的温度校正因子。
搜索关键词: 飞行 时间 质谱仪 漂移 导致 质量 差错 校正
【主权项】:
1.一种考虑到温度变化而校准TOF‑MS质谱的方法,包括:(a)将离子引入到傅里叶变换质谱仪(FTMS)中;(b)获得表示被引入到所述FTMS中的所述离子中的至少一些校准离子的质荷比的数据;(c)将离子引入到飞行时间质谱仪(TOF MS)中,被引入到所述TOF MS中的所述离子包含来自校准离子物种的离子;(d)获得表示被引入到所述TOF MS中的所述校准离子物种中的至少一些离子的质荷比的数据;(e)在从所述FTMS和所述TOF MS中的第一者获得的所述数据中选择表示一个或多个校准离子物种的一个或多个峰;(f)匹配从所述FTMS和所述TOF MS中的所述第一者获得的所述数据中的所述或每一个所选择的峰与从所述FTMS和所述TOF MS中的第二者获得的所述数据中的且表示所述或每一个所选择的校准离子物种的对应的一个或多个峰;(g)基于所述TOF MS和FTMS校准离子物种峰的相对位置,确定所述TOF MS数据的温度校正因子;以及(h)向通过所述TOF MS获得的数据施加所述温度校正因子,以便针对所述TOF MS的温度改变校正所述TOF MS数据。
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