[发明专利]一种三维扫描系统及方法有效
| 申请号： | 201810552440.6 | 申请日： | 2018-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN108805976B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 郑顺义;王晓南;成剑华;刘庆龙;朱锋博 | 申请（专利权）人： | 武汉中观自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T17/00 | 分类号： | G06T17/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立;陈璐 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖高新技*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种三维扫描系统及方法，其系统包括跟踪设备、扫描仪和处理器，扫描仪表面设置有多个参考标志点；跟踪设备获取其视场范围内的参考标志点的第一坐标；扫描仪对目标物体进行扫描，获取在目标物体表面形成的扫描点的第二坐标；处理器获取参考标志点的第二坐标，还根据参考标志点的第一坐标、参考标志点的第二坐标和扫描点的第二坐标在第一坐标系中构建目标物体表面，生成目标物体的三维模型。本发明通过分别获取参考反光点的第一坐标和扫描点的第二坐标，根据参考反光点的第一坐标和扫描点的第二坐标得到扫描点的第一坐标，即可在第一坐标系中构建目标物体的表面，从而生成目标物体三维模型，扫描精度高，方便快捷，且工作空间可扩展。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 三维 扫描 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种三维扫描系统，其特征在于：包括跟踪设备(1)、扫描仪(2)和处理器(4)，所述扫描仪(2)表面设置有至少四个参考标志点；所述跟踪设备(1)用于获取其视场范围内的所述参考标志点在第一坐标系的坐标；所述扫描仪(2)用于对目标物体(3)进行扫描，获取在目标物体(3)表面形成的扫描点在第二坐标系的坐标；所述处理器(4)用于获取所述参考标志点在第二坐标系的坐标，并根据所述参考标志点在第一坐标系的坐标、参考标志点在第二坐标系的坐标和扫描点在第二坐标系的坐标在第一坐标系中构建目标物体(3)表面，生成目标物体(3)的三维模型；其中，所述第一坐标系为以所述跟踪设备(1)为中心构建的三维坐标系，所述第二坐标系为以所述扫描仪(2)为中心构建的三维坐标系。
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