[发明专利]一种痕量目标物的聚集检测方法及超声聚集装置在审

专利信息
申请号: 201810552739.1 申请日: 2018-05-31
公开(公告)号: CN108982200A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 许太林;罗勇;张学记 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G01N1/40 分类号: G01N1/40
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 皋吉甫
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于分析化学领域,具体涉及一种痕量目标物的聚集检测方法及超声聚集装置;所述痕量目标物的聚集检测方法是在超声条件下将DNA修饰的金纳米颗粒与待测痕量目标DNA分子结合,再改变超声频率以聚集金纳米颗粒,最终实现所述待测痕量目标DNA分子的痕量检测。所述痕量目标物的聚集检测方法具有响应时间短、检测效率高等优势,在实现快速精准分析和超痕量检测方面具有重要价值,为痕量标志物的超灵敏检测提供了一种高效可行的方案。
搜索关键词: 痕量 聚集检测 目标物 目标DNA分子 金纳米颗粒 痕量检测 聚集装置 超声 分析化学领域 超灵敏检测 超声频率 超声条件 快速精准 标志物 响应 检测 分析
【主权项】:
1.一种痕量目标物的聚集检测方法,其特征在于,所述痕量目标物的聚集检测方法是在超声条件下将DNA修饰的金纳米颗粒与待测痕量目标DNA分子结合,再改变超声频率以聚集金纳米颗粒,最终实现所述待测痕量目标DNA分子的痕量检测。
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