[发明专利]一种SRAM型FPGA片内跟踪环路单粒子翻转错误修复方法

摘要

本发明公开了一种SRAM型FPGA片内跟踪环路单粒子翻转错误修复方法，相比于直接对三个跟踪环路输出结果直接进行三模表决的方法，可以避免单个跟踪环路出错后没有立即纠正，错误发生积累导致多个跟踪环路出错，进而不能输出正确结果的问题，确保三个跟踪环路的错误不会发生累积；同时，对出错的通道数据进行同步检错纠错，实现了对FPGA跟踪环路的无中断恢复设计，保证了三个跟踪环路工作状态的一致性；通过跟踪环路三模冗余设计以及利用对单粒子翻转不敏感的反熔丝型FPGA三模检错纠错电路，能可靠及时地发现跟踪环路的单粒子翻转错误。三模冗余与判决均采用FPGA软件实现，相比于FPGA硬三模实现方法，可以节省电路资源。

主权项

1.一种跟踪环路单粒子翻转错误修复方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、在SRAM型FPGA内部对跟踪环路复制例化三份，分别接受外部输入信号并分步骤进行处理；每完成一个处理环节，得到的中间处理结果存到对应的中间寄存器；步骤2、针对3个跟踪环路的每一个处理环节对应的中间寄存器存储的中间处理结果进行判决，得到判决结果；步骤3、根据判决结果进行如下操作：a)、如果只有一个跟踪环路的中间处理结果出错，对出错的跟踪环路对应的中间寄存器进行错误纠正；b)、如果有两个或两个以上跟踪环路的中间处理结果出错，则对SRAM型FPGA进行清零复位；c)若无任何错误发生，不进行任何纠错操作；其中，所述步骤2中对中间处理结果进行判决，得到判决结果的具体方法为：用A、B、C分布表示3个跟踪环路的中间处理结果；S表示三模数据判决结果；将A、B、C两两按位求与后再按位求或，得到判决结果S，即表示为：S＝AB+AC+BC；再将A、B、C两两按位异或后得到1比特中间判决结果再两两相与，得到有几个跟踪环路出错，则状态判决的逻辑为：其中，T₁表示跟踪环路1和跟踪环路2的数据是否完全一致，T₂表示跟踪环路1和跟踪环路3的数据是否完全一致，T₃表示跟踪环路2和跟踪环路3的数据是否完全一致，0表示一致，1表示不一致；最后判断出错跟踪环路的序号，逻辑表达为：E₁＝T₁T₂E₂＝T₁T₃E₃＝T₂T₃其中，E₁表示跟踪环路1是否出错，E₂表示跟踪环路2是否出错，E₃表示跟踪环路3是否出错；1表示出错，0表示未出错。