[发明专利]一种高频SAW之IDT铜工艺制造方法有效

专利信息
申请号: 201810558978.8 申请日: 2018-06-01
公开(公告)号: CN108923763B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 邹福松;杨濬哲;朱庆芳;尚荣耀;谢祥政;蔡文必 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: H03H3/02 分类号: H03H3/02
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭;陈淑娴
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种高频SAW之IDT铜工艺制造方法,其步骤为:于压电衬底上形成第一介质层,通过正性光刻胶曝光和干法蚀刻于第一介质层上形成IDT图形形貌,沉积IDT金属层,然后采用CMP工艺研磨IDT金属层形成相应的IDT金属结构,蚀刻第一介质层后沉积第二介质层。本发明通过正性光刻胶配合干法刻蚀和CMP工艺,可以有效实现金属图形化和IDT金属形貌的控制,满足更小线宽IDT电极的要求,使得目标频率更易达成,且工艺简单,可控性强,极大的降低了成本。
搜索关键词: 一种 高频 saw idt 工艺 制造 方法
【主权项】:
1.一种高频SAW之IDT铜工艺制造方法,其特征在于包括以下步骤:1)提供压电材料衬底;2)于衬底上沉积介质材料形成第一介质层;3)涂覆正性光刻胶,曝光、显影后定义出IDT图形,采用干法蚀刻工艺刻蚀所述第一介质层以形成与IDT图形相应的膜层形貌,去除正性光刻胶;4)沉积金属形成IDT金属层,所述IDT金属层至少顶层为Cu;5)采用CMP工艺研磨所述IDT金属层至与所述第一介质层平齐,形成与IDT图形相应的IDT金属结构;6)涂覆正性光刻胶,曝光、显影后定义出第一介质层的剥离区域,剥离所述剥离区域之内的介质材料,去除正性光刻胶;7)于步骤6)形成的结构表面沉积介质材料形成第二介质层;8)对预设区域的第二介质层开连接孔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门市三安集成电路有限公司,未经厦门市三安集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810558978.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top