[发明专利]一种高频SAW之IDT铜工艺制造方法有效
申请号: | 201810558978.8 | 申请日: | 2018-06-01 |
公开(公告)号: | CN108923763B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 邹福松;杨濬哲;朱庆芳;尚荣耀;谢祥政;蔡文必 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安集成电路有限公司 |
主分类号: | H03H3/02 | 分类号: | H03H3/02 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭;陈淑娴 |
地址: | 361000 福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种高频SAW之IDT铜工艺制造方法,其步骤为:于压电衬底上形成第一介质层,通过正性光刻胶曝光和干法蚀刻于第一介质层上形成IDT图形形貌,沉积IDT金属层,然后采用CMP工艺研磨IDT金属层形成相应的IDT金属结构,蚀刻第一介质层后沉积第二介质层。本发明通过正性光刻胶配合干法刻蚀和CMP工艺,可以有效实现金属图形化和IDT金属形貌的控制,满足更小线宽IDT电极的要求,使得目标频率更易达成,且工艺简单,可控性强,极大的降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 高频 saw idt 工艺 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高频SAW之IDT铜工艺制造方法,其特征在于包括以下步骤:1)提供压电材料衬底;2)于衬底上沉积介质材料形成第一介质层;3)涂覆正性光刻胶,曝光、显影后定义出IDT图形,采用干法蚀刻工艺刻蚀所述第一介质层以形成与IDT图形相应的膜层形貌,去除正性光刻胶;4)沉积金属形成IDT金属层,所述IDT金属层至少顶层为Cu;5)采用CMP工艺研磨所述IDT金属层至与所述第一介质层平齐,形成与IDT图形相应的IDT金属结构;6)涂覆正性光刻胶,曝光、显影后定义出第一介质层的剥离区域,剥离所述剥离区域之内的介质材料,去除正性光刻胶;7)于步骤6)形成的结构表面沉积介质材料形成第二介质层;8)对预设区域的第二介质层开连接孔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门市三安集成电路有限公司,未经厦门市三安集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810558978.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种低工作电压的全差分运算放大器
- 下一篇:MEMS薄膜体声波谐振器