[发明专利]一种基于嵌入式的片上径向失真校正方法在审

专利信息
申请号: 201810562382.5 申请日: 2018-05-31
公开(公告)号: CN108734681A 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 潘永刚;张少军;赵玉林 申请(专利权)人: 天津煋鸟科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06K9/46;G06K9/62
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地址: 301701 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种基于嵌入式的片上径向失真校正方法,包括以下步骤:S1、设计基于像差理论的环视透镜:首先基于像差理论对光学系统中折反射透镜的像差进行分析计算,利用折反射透镜的特点,进行折反光学系统的建模;S2、设计基于所述环视透镜的成像光学系统:通过面的曲率、通光口径及材料来改变光路的走向,利用合理选择设计光学系统结构来优化折反式成像系统,实现360°环视成像效果;S3、基于嵌入式的片上径向失真校正:通过环视折反射透镜系统的图像投影模型,给出投影变换的数学模型,然后在计算机上采用MATLAB编写图像校正算法。本发明实现了片上校正径向失真及畸变,大幅提高了图像处理速度,提高了产品的市场竞争力。
搜索关键词: 透镜 失真校正 嵌入式 折反射 像差 成像光学系统 设计光学系统 图像校正算法 折反光学系统 曲率 市场竞争力 成像系统 成像效果 分析计算 光学系统 数学模型 通光口径 投影变换 透镜系统 图像处理 图像投影 畸变 反式 光路 建模 校正 失真 计算机 优化
【主权项】:
1.一种基于嵌入式的片上径向失真校正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、设计基于像差理论的环视透镜:首先基于像差理论对光学系统中折反射透镜的像差进行分析计算,利用折反射透镜的特点,进行折反光学系统的建模;S2、设计基于所述环视透镜的成像光学系统:通过面的曲率、通光口径及材料来改变光路的走向,利用合理选择设计光学系统结构来优化折反式成像系统,实现360°环视成像效果;S3、基于嵌入式的片上径向失真校正:通过环视折反射透镜系统的图像投影模型,给出投影变换的数学模型,然后在计算机上采用MATLAB编写图像校正算法,验证图像投影模型的正确性和校正效果,最后结合FPGA和DSP的各自优势,分解校正算法,移植到嵌入式系统中;S4、全景图像的运动检测和人体识别技术:首先从建立复杂环境下强鲁棒自适应背景模型出发,进行图像运动目标的分割检测,并采用Hog特征和轮廓特征融合的特征提取方法,结合SVM分类器和AdaBoost分类器完成人体识别。
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