[发明专利]导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备有效
| 申请号： | 201810564884.1 | 申请日： | 2018-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN110619620B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 陈佳伟 | 申请（专利权）人： | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/187;G06T7/62;G06T7/73;G06T7/90;G06K9/62;G06V10/764 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备，导致表面缺陷的异常定位方法包括：获取待检测图像的缺陷检测结果，其中，缺陷检测结果包括待检测图像中的缺陷统计信息，待检测图像为图像采集设备拍摄的包括检测对象的图像；获取与缺陷统计信息匹配的待分析图像；对待分析图像进行检测分析，确定出与缺陷统计信息关联的异常信息，其中，异常信息包括异常位置信息。通过本方案，可以准确定位导致表面缺陷的异常。 | ||
| 搜索关键词： | 导致 表面 缺陷 异常 定位 方法 装置 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种导致表面缺陷的异常定位方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待检测图像的缺陷检测结果，所述缺陷检测结果包括所述待检测图像中的缺陷统计信息，所述待检测图像为图像采集设备拍摄的包括检测对象的图像；/n获取与所述缺陷统计信息匹配的待分析图像；/n对所述待分析图像进行检测分析，确定出与所述缺陷统计信息关联的异常信息，所述异常信息包括异常位置信息。/n
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