[发明专利]性能测试方法和装置、存储介质及电子装置有效
| 申请号： | 201810564901.1 | 申请日： | 2018-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN108771869B | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 杨蒙;魏学峰;严明;肖央 | 申请（专利权）人： | 腾讯科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | A63F13/79 | 分类号： | A63F13/79;A63F13/75;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 周婷婷;江舟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种性能测试方法和装置、存储介质及电子装置。其中，该方法包括：获取待测试的虚拟角色所具备的技能的性能参数；根据性能参数依次提取虚拟角色在虚拟场景中第i个技能表现的技能表现特征，其中，i为大于等于1，且小于等于M的整数，M为技能表现的数量；获取与虚拟角色所属角色类型匹配的表现系数集合，其中，表现系数集合中包含的每一个表现系数分别用于指示一个技能表现特征的表现程度；根据技能表现特征及表现系数集合，获取与虚拟角色匹配的测试结果，其中，在测试结果属于目标数值范围的情况下，虚拟角色所具备的技能的性能参数指示为配置平衡。本发明解决了相关技术中存在的虚拟角色的性能参数平衡性较差的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测试 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】：
1.一种性能测试方法，其特征在于，包括：获取待测试的虚拟角色所具备的技能的性能参数；根据所述性能参数依次提取所述虚拟角色在虚拟场景中第i个技能表现的技能表现特征，其中，所述i为大于等于1，且小于等于M的整数，所述M为所述技能表现的数量；获取与所述虚拟角色所属角色类型匹配的表现系数集合，其中，所述表现系数集合中包含的每一个表现系数分别用于指示一个所述技能表现特征的表现程度；根据所述技能表现特征及所述表现系数集合，获取与所述虚拟角色匹配的测试结果，其中，在所述测试结果属于目标数值范围的情况下，所述虚拟角色所具备的技能的所述性能参数指示为配置平衡。
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