[发明专利]一种薄膜材料表面电位的测量设备在审
申请号: | 201810565261.6 | 申请日: | 2018-06-04 |
公开(公告)号: | CN108508282A | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 严玉婷;黄荣辉;艾精文;向真;胡力广 | 申请(专利权)人: | 深圳供电局有限公司 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种薄膜材料表面电位的测量设备,包括:试验箱,用于为测量提供真空条件并通入测量所需的各种气体;设置在所述试验箱内的加热台,用于为测量提供所需的温度条件;位于所述加热台之上且与所述加热台紧密接触的地电极;设置在所述试验箱内的针电极和栅网电极,所述栅网电极位于所述针电极与所述地电极之间,所述针电极与第一高压电源相连,所述栅网电极与第二高压电源相连;设置在所述试验箱内的静电探头,用于对置于所述地电极之上、经充电后的待测薄膜材料进行表面电位测量。本发明设计合理,易制作,使用方便,原理简单,可以实现不同温度以及不同气氛下的测量实验,并保证测量结果的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 栅网电极 地电极 加热台 针电极 薄膜材料表面 电位 测量设备 高压电源 测量 试验 表面电位测量 薄膜材料 测量实验 温度条件 真空条件 静电 试验箱 探头 充电 制作 保证 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜材料表面电位的测量设备,其特征在于,包括:试验箱,其具有两开孔,其中一个连接真空泵,用于为测量提供真空条件,另一个为透气孔,用于通入测量所需的各种气体;设置在所述试验箱内的加热台,用于为测量提供所需的温度条件;位于所述加热台之上且与所述加热台紧密接触的地电极;设置在所述试验箱内的针电极和栅网电极,所述栅网电极位于所述针电极与所述地电极之间,所述栅网电极与第一高压电源相连,所述针电极与第二高压电源相连;设置在所述试验箱内的静电探头,用于对置于所述地电极之上、经充电后的待测薄膜材料进行表面电位测量。
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