[发明专利]一种半导体离子敏场效应晶体管ISFET的制备方法在审

专利信息
申请号: 201810569127.3 申请日: 2018-06-05
公开(公告)号: CN108767012A 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 孟青;李良浩 申请(专利权)人: 广州市康超信息科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 陈燕娴
地址: 511340 广东省广州市增*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种离子敏场效应晶体管的制备方法,包括以下步骤:第一步:设计离子敏场效应晶体管的结构;第二步:生长栅二氧化硅膜;第三步:制备ISFET敏感膜,敏感膜为Si3N4膜,采用化学气相沉积法CVD进行制备;第四步:对敏感膜进行刻蚀;第五步:制备金属电极及引线连接;第六步:对ISFET进行封装;并通过高温蒸气对其进行消毒。本发明所制备的ISFET的响应快,灵敏度高,稳定性好,体积小,成本低,重量轻,适于批量生产及制造,在产业上广泛应用。
搜索关键词: 制备 敏感膜 离子敏场效应晶体管 化学气相沉积 栅二氧化硅膜 制备金属电极 半导体离子 高温蒸气 敏场效应 引线连接 灵敏度 晶体管 体积小 重量轻 刻蚀 封装 消毒 生长 响应 应用 制造 生产
【主权项】:
1.一种离子敏场效应晶体管的制备方法,其特征在于,该制备方法包括以下步骤:第一步:设计离子敏场效应晶体管的结构;第二步:生长栅二氧化硅膜;将上述设计好的ISFET依次进行抛光清洗,氧化光刻,使分别扩散P+区和漏源n+区,去除源、漏之间敏感区上的SiO2,随后生长栅二氧化硅膜;第三步:制备ISFET敏感膜,敏感膜为Si3N4膜,采用化学气相沉积法CVD进行制备,反应气体为SiH4与N2H2+NH3的混合气体;第四步:对敏感膜进行刻蚀;采用等离子体刻蚀对已生长的敏感膜进行刻蚀,向射频发生器中通入C7F14,并将生成的SiF4抽出;第五步:制备金属电极及引线连接;将形成的电极接触孔进行真空蒸发铝、光刻、划片及连接引线;第六步:对ISFET进行封装;采用水凝胶对ISFET的栅区进行覆盖,将上述制备的ISFET置于尼龙管内,采用硅酮树脂对ISFET进行固定,并通过高温蒸气对其进行消毒。
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