[发明专利]一种超高偏振光谱分析系统及方法有效
申请号: | 201810569609.9 | 申请日: | 2018-06-05 |
公开(公告)号: | CN108955886B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 刘加庆;韩顺利;张志辉;刘雷;李志增;孟鑫 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01J3/447 | 分类号: | G01J3/447 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 李琳 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种超高偏振光谱两维信息融合分析系统及方法,包括待测光输入通道、偏振泵浦模块、控制与数据采集模块、数据处理模块、波长定标模块和至少两个的偏振测量通道,所述待测光输入通道将待测光分为至少两束偏振状态相互正交的偏振待测光,分别输入各个偏振测量通道,所述偏振泵浦模块产生波长可变的传输至偏振测量通道的泵浦光;所述控制与数据采集模块采集并获取各个偏振测量通道输出的光谱信号,并控制整个光谱分析系统的工作,超高偏振光谱采样数据的波长由波长定标模块给出,超高偏振光谱采样数据进入数据处理模块进行后续处理,完成待测光的超高偏振光谱两维信息融合分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 超高 偏振 光谱分析 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种超高偏振光谱两维信息融合分析系统,其特征是:包括待测光输入通道、偏振泵浦模块、控制与数据采集模块、数据处理模块、波长定标模块和至少两个偏振测量通道,所述待测光输入通道单模待测光分为至少两束偏振状态相互正交的偏振待测光,分别输入各个偏振测量通道,所述偏振泵浦模块产生波长可变的传输至偏振测量通道的泵浦光;所述控制与数据采集模块采集并获取各个偏振测量通道输出的光谱信号并控制整个光谱分析系统的工作,超高偏振光谱采样数据的波长由波长定标模块给出,超高偏振光谱采样数据进入数据处理模块进行后续处理,完成待测光的超高偏振光谱两维信息融合分析。
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