[发明专利]磁共振系统的梯度线圈位置校准方法和装置在审
| 申请号： | 201810575880.3 | 申请日： | 2018-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN108872909A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 谷会东;运晓靖;徐志坚 | 申请（专利权）人： | 上海东软医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 200241 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供一种磁共振系统的梯度线圈位置校准方法和装置，该方法包括：在磁共振系统的横断面、矢状面、冠状面中的至少一个成像面上进行目标成像体的成像，得到相应的成像图像；其中，所述目标成像体设置于磁体成像区域的中心位置；根据所述成像图像，确定所述目标成像体相对所述中心位置的成像位置关系与对应预设位置关系之间的偏差；根据所述偏差校准所述磁共振系统的梯度线圈的位置。可提高梯度线圈的电气定位精度。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振系统 梯度线圈 目标成像 方法和装置 成像图像 位置校准 成像 成像区域 成像位置 偏差校准 预设位置 横断面 冠状面 矢状面 申请 | ||
【主权项】：
1.一种磁共振系统的梯度线圈位置校准方法，其特征在于，包括：在磁共振系统的横断面、矢状面、冠状面中的至少一个成像面上进行目标成像体的成像，得到相应的成像图像；其中，所述目标成像体设置于磁体成像区域的中心位置；根据所述成像图像，确定所述目标成像体相对所述中心位置的成像位置关系与对应预设位置关系之间的偏差；根据所述偏差校准所述磁共振系统的梯度线圈的位置。
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