[发明专利]一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法及其检测设备在审
| 申请号： | 201810578781.0 | 申请日： | 2018-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN109839383A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 周永南;冯煜 | 申请（专利权）人： | 江阴通利光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人： | 蒋骏杰 |
| 地址： | 214411 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法及其检测设备，一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，包括如下步骤：步骤一，从产线上对微透镜阵列微结构光学膜进行取样，形成待检测光学膜；步骤二，将所述待检测光学膜进行固定，基材面向下，微透镜阵列面向上；在所述待检测光学膜下方设置点光源；所述点光源距所述待检测光学膜之间的距离为1‑5cm；步骤三，点光源启动，发出的光线透过所述待检测光学膜，在其上表面形成一个圆形光斑；步骤四，对所述圆形光斑进行标记、测量，并与标准样品形成的标准圆形光斑进行对比。一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，包括一测试台装置，还包括一待测膜夹片装置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学膜 微透镜阵列 微结构 瑕疵检测 检测 检测设备 圆形光斑 点光源 测试台装置 标准样品 标准圆形 光线透过 光斑 片装置 上表面 设置点 产线 基材 膜夹 取样 光源 测量 | ||
【主权项】：
1.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，从产线上对微透镜阵列微结构的光学膜进行取样，形成待检测光学膜；步骤二，将所述待检测光学膜进行固定，基材面向下，微透镜阵列面向上；在所述待检测光学膜下方设置点光源；所述点光源距所述待检测光学膜之间的距离为1‑5cm；步骤三，点光源启动，发出的光线透过所述待检测光学膜，在其上表面形成一个圆形光斑；步骤四，对所述圆形光斑进行标记、测量，并与标准样品形成的标准圆形光斑进行对比，判断所述待检测光学膜内微结构的宏观质量好坏。
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