[发明专利]一种叠层栅钙钛矿场效应晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810582655.2 申请日: 2018-06-07
公开(公告)号: CN108987575A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 贾仁需;杜永琪;汪钰成;张玉明 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/40
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种叠层栅钙钛矿场效应晶体管的制备方法,包括以下步骤:选取Si衬底;在Si衬底表面溅射ITO薄膜形成栅电极层;在栅电极层及Si衬底上溅射HfO2材料形成第一绝缘栅介质层;在第一绝缘栅介质层上旋涂PMMA材料形成第二绝缘栅介质层;在第二绝缘栅介质层上旋涂钙钛矿材料形成半导体层;在半导体层上溅射Au材料形成源极层和漏极层,并最终形成叠层栅钙钛矿场效应晶体管。本发明实施例的叠层栅结构,减少了栅极漏电流,扩大了器件的应用范围,改善了器件的功率特性,提高了器件的可靠性;高介电常数材料,如HfO2,能提供高的单位电容值,增强栅电容对沟道电子的控制能力,提高了隧道击穿栅节点的电流和器件的工作电压。
搜索关键词: 介质层 绝缘栅 场效应晶体管 叠层栅 钙钛矿 溅射 半导体层 材料形成 栅电极层 衬底 上旋 制备 高介电常数材料 叠层栅结构 钙钛矿材料 栅极漏电流 衬底表面 单位电容 工作电压 功率特性 沟道电子 控制能力 隧道击穿 漏极层 源极层 栅电容 栅节点 应用
【主权项】:
1.一种叠层栅钙钛矿场效应晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、选取Si衬底;S2、在所述Si衬底表面溅射ITO薄膜形成栅电极层;S3、在所述栅电极层及所述Si衬底上溅射HfO2材料形成第一绝缘栅介质层;S4、在所述第一绝缘栅介质层上旋涂PMMA材料形成第二绝缘栅介质层;S5、在所述第二绝缘栅介质层上旋涂钙钛矿材料形成半导体层;S6、在所述半导体层上溅射Au材料形成源极层和漏极层,并最终形成叠层栅钙钛矿场效应晶体管。
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