[发明专利]半导体激光器自动功能测试系统有效
申请号: | 201810583920.9 | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN108444682B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 文少剑;刘猛;黄海翔;廖东升;董晓东 | 申请(专利权)人: | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518100 广东省深圳市龙华新区观澜*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种半导体激光器自动功能测试系统,包括:工作台;光功率检测组件,光功率检测组件包括光功率计探头、及功率采集器;光功率计探头根据激光光线的功率而产生相应的功率电信号功率采集器对功率电信号采集;光谱检测组件,光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与光谱导光光纤耦合的光谱仪;驱动电源,用于向半导体激光器输出电流;及数据处理装置,光谱仪将光谱检测数据输出至数据处理装置;数据处理装置对驱动电源的输出电流进行控制。通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流,使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化,结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据,从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。 | ||
搜索关键词: | 半导体激光器 自动 功能 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种半导体激光器自动功能测试系统,其特征在于,包括:工作台;光功率检测组件,用于对半导体激光器输出的光功率进行检测;所述光功率检测组件包括安装在所述工作台上光功率计探头、及功率采集器;所述光功率计探头根据所述半导体激光器发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号,并输出至所述功率采集器;所述功率采集器对功率电信号进行采集;光谱检测组件,用于对所述半导体激光器输出的激光的光谱进行检测;所述光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与所述光谱导光光纤耦合的光谱仪;所述光谱导光光纤的输入端设置在所述工作台上,且与所述光功率计探头对应设置;驱动电源,用于向所述半导体激光器输出电流;及数据处理装置,所述光谱仪将光谱检测数据输出至所述数据处理装置;所述功率采集器将功率电信号输出至所述数据处理装置;所述数据处理装置对所述驱动电源的输出电流进行控制。
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