[发明专利]随机硬件失效指标获取方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 201810589864.X | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN110580559B | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 王方方;孙衍茂;翟萧;宋健 | 申请(专利权)人: | 大陆泰密克汽车系统(上海)有限公司 |
主分类号: | G06Q10/0639 | 分类号: | G06Q10/0639;G06N7/01 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 汤国华 |
地址: | 201815 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种随机硬件失效指标获取方法、计算机设备及计算机存储可读存储介质。本发明技术方案的随机硬件失效指标获取方法包括:基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合;获取第一最小割集集合,所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合;获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率,所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率;基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。本发明的技术方案获取的随机硬件失效指标准确度高,且获取随机硬件失效指标的复杂度低。 | ||
搜索关键词: | 随机 硬件 失效 指标 获取 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种随机硬件失效指标获取方法,其特征在于,包括:/n基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合;/n获取第一最小割集集合,所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合;/n获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率,所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率;/n基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。/n
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G06 计算;推算;计数
G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法;其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10-00 行政;管理
G06Q10-02 .预定,例如用于门票、服务或事件的
G06Q10-04 .预测或优化,例如线性规划、“旅行商问题”或“下料问题”
G06Q10-06 .资源、工作流、人员或项目管理,例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源;企业规划;组织模型
G06Q10-08 .物流,例如仓储、装货、配送或运输;存货或库存管理,例如订货、采购或平衡订单
G06Q10-10 .办公自动化,例如电子邮件或群件的计算机辅助管理
G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法;其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
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