[发明专利]随机硬件失效指标获取方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201810589864.X 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN110580559B 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: 王方方;孙衍茂;翟萧;宋健 申请(专利权)人: 大陆泰密克汽车系统(上海)有限公司
主分类号: G06Q10/0639 分类号: G06Q10/0639;G06N7/01
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 汤国华
地址: 201815 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种随机硬件失效指标获取方法、计算机设备及计算机存储可读存储介质。本发明技术方案的随机硬件失效指标获取方法包括:基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合;获取第一最小割集集合,所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合;获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率,所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率;基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。本发明的技术方案获取的随机硬件失效指标准确度高,且获取随机硬件失效指标的复杂度低。
搜索关键词: 随机 硬件 失效 指标 获取 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种随机硬件失效指标获取方法,其特征在于,包括:/n基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合;/n获取第一最小割集集合,所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合;/n获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率,所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率;/n基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大陆泰密克汽车系统(上海)有限公司,未经大陆泰密克汽车系统(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810589864.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top