[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201810593548.X 申请日: 2018-06-11
公开(公告)号: CN109962110B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 千大焕 申请(专利权)人: 现代自动车株式会社;起亚自动车株式会社
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开提供一种半导体器件,包括衬底、n‑型层、n+型区域、p型区域、p+型区域、栅极绝缘层、栅电极、源电极以及漏电极,其中,在平面图中,n+型区域设置在n‑型层的左侧和右侧,并且在平面图中配置为形成带状图案,其中,在平面图中,p+型区域设置在n+型区域的外表面上,并且在平面图中配置为形成带状图案,其中,在平面图中,在n+型区域的内表面上设置有p型区域,并且p型区域在平面图中沿n+型区域的长度方向以预定间隔分离。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:衬底;n‑型层;n+型区域;p型区域;p+型区域;栅极绝缘层;栅电极;源电极;和漏电极,其中,所述n+型区域:在俯视时,设置在所述n‑型层的左侧和所述n‑型层的右侧,并且在俯视时,配置为形成带状图案,其中,所述p+型区域:在俯视时,设置在所述n+型区域的外表面上;并且在俯视时,配置为形成带状图案,以及其中,在俯视时,在所述n+型区域的内表面上设置有所述p型区域,并且在俯视时,所述P型区域沿所述n+型区域的长度方向以预定间隔分离。
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