[发明专利]储层裂缝发育程度的评价方法及装置

摘要

本发明实施例提供了一种储层裂缝发育程度的评价方法及装置，所述方法包括根据确定的第一类砂体信息以及第一后验概率，确定待测井中每个砂体的第一类单个砂体内裂缝强度以及目标地层内的第一类层内裂缝强度；基于第一类单个砂体内裂缝强度以及预设的单个砂体内裂缝强度评价标准，评价待测井中每个砂体的裂缝发育程度；基于第一类层内裂缝强度以及预设的层内裂缝强度评价标准，评价待测井中目标地层的裂缝发育程度。本发明中不仅考虑了体现裂缝发育程度的其他特征，还可以分别对目标地层内的裂缝发育程度以及待测井内每一砂体的裂缝发育程度进行评价，可以实现对单井裂缝发育程度做出更客观全面的评价。

主权项

1.一种储层裂缝发育程度的评价方法，其特征在于，包括：基于待测井的第一测井曲线，确定所述待测井中的第一类砂体信息，并将所述第一测井曲线输入至预设概率计算模型，得到所述待测井中裂缝发育的第一后验概率；所述第一后验概率用于表征所述待测井中裂缝测井响应的强度；根据所述第一类砂体信息以及所述第一后验概率，确定所述待测井中每个砂体的第一类单个砂体内裂缝强度；所述第一类单个砂体内裂缝强度用于表征所述待测井中每个砂体内的裂缝强度；基于所述第一类单个砂体内裂缝强度以及预设的单个砂体内裂缝强度评价标准，评价所述待测井中每个砂体的裂缝发育程度。