[发明专利]一种适用于多种规格晶振的测试基板有效

专利信息
申请号: 201810594963.7 申请日: 2018-06-11
公开(公告)号: CN108957288B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 张北江;赵陆文;徐萍 申请(专利权)人: 南京尤尼泰信息科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 210000 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种适用于多种规格晶振的测试基板,包括供电插座,输出待测晶振的源信号的输出插座,与测试插板的测试插针对应电连接的测试插座,以及设置在所述测试基板背面的测试电路。其中测试插座分别与测试基板的三个测试插针组相对应,这些测试插座中的多个接线端与测试电路的中多个模块的输入输出端及控制端电连接,通过与测试插板上的测试插针组对应连接能够改变测试电路中这些接线端的连接控制关系,从而能够适应不同供电类型的测试插板。该测试基板为多种供电类型的测试插板提供一个统一的供电平台,便于多种规格晶振加电测试。
搜索关键词: 一种 适用于 多种 规格 测试
【主权项】:
1.一种适用于多种规格晶振的测试基板,其特征在于,所述测试基板包括设置在所述测试基板正面的用于接入外部直流电压的供电插座,输出待测晶振的源信号的输出插座,与测试插板的测试插针对应电连接的测试插座,以及设置在所述测试基板背面的测试电路;所述测试电路包括电源滤波模块,外部直流电压经过所述电源滤波模块后输出两路,其中第一路直通作为高电压通道,第二路经过串接的开关电源模块和LC储能电路作为低电压通道;所述测试插座包括具有双排12插孔的第一测试插座、双排10插孔的第二测试插座和双排4插孔的第三测试插座,所述测试插板对应包括双排12插针的第一测试插针组、双排10插针的第二测试插针组和双排4插针的第三测试插针组;所述第一测试插座包括高电压输入端,与所述高电压通道的输出端电连接;低电压输入端,与所述低电压通道的输出端电连接;电压公共端,与连接线性电源模块的输入端电连接;通过所述测试插板上对应的第一测试插针组将所述高电压输入端与所述电压公共端电连接,或者将所述低电压输入端与所述电压公共端电连接;所述线性电源模块对输入的电压进行线性分压得到插接在所述测试插板上的待测晶振的供电电压。
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