[发明专利]一种应用于粗糙地表面的雷电水平场估算方法及装置在审

专利信息
申请号: 201810598789.3 申请日: 2018-06-12
公开(公告)号: CN108776741A 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 段尚琪;梁松涛;陈伯希;张其林;王磊;梁仕斌;王金虎;李祥超;吴进成;宋庆 申请(专利权)人: 云南电网有限责任公司昆明供电局
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 650011 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 本申请公开一种应用于粗糙地表面的雷电水平场估算方法及装置,其中,所述方法包括:确定应用于粗糙地表面的二维归一化带限Weirstrass分形函数、粗糙地表面上任意两个起伏高度之间的关联程度函数、粗糙地表面的高度频谱密度函数、粗糙地表面的额外阻抗增加量、粗糙地表面的等效表面阻抗和粗糙地表面的衰减因子,根据所述衰减因子确定粗糙地表面的雷电水平场。上述方法在对雷电水平场进行估算的过程中,考虑了地表面粗糙不平带来的影响,有效地解决了现有的雷电水平场估算方法未考虑地表面的粗糙不平而导致估算结果不准确的问题,提高了雷电水平场估算结果的准确性。
搜索关键词: 地表 粗糙 水平场 雷电 估算 粗糙不平 衰减因子 应用 频谱密度函数 表面阻抗 程度函数 额外阻抗 地表面 归一化 有效地 增加量 二维 分形 关联 申请
【主权项】:
1.一种应用于粗糙地表面的雷电水平场估算方法,其特征在于,包括:获取粗糙地表面的起伏高度以及任意相邻两个起伏之间的间隙,并根据所述起伏高度和间隙确定应用于粗糙地表面的二维归一化带限Weirstrass分形函数;根据所述二维归一化带限Weirstrass分形函数,确定粗糙地表面上任意两个起伏高度之间的关联程度函数;获取雷电水平场产生的电磁波的空间波数,并根据所述空间波数和关联程度函数确定粗糙地表面的高度频谱密度函数;获取额外阻抗增加量参数,并根据所述额外阻抗增加量参数和所述高度频谱密度函数,确定粗糙地表面的额外阻抗增加量;获取光滑地表面的等效阻抗,并根据所述光滑地表面的等效阻抗和所述粗糙地表面的额外阻抗增加量,确定粗糙地表面的等效表面阻抗;根据所述粗糙地表面的等效表面阻抗,确定粗糙地表面的衰减因子;获取地表面的切向磁场以及大地电导率无限大情况下的雷电水平场,并根据所述切向磁场、所述大地电导率无限大情况下的雷电水平场和所述衰减因子,确定所述粗糙地表面的雷电水平场。
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