[发明专利]一种TIADC采集系统的幅频响应误差估计及校正方法

摘要

本发明公开了一种TIADC采集系统的幅频响应误差估计及校正方法，将TIADC采集系统的全带宽划分为多个子带，并取子带端点作为抽样频点，通过输入各抽样频点为信号频率的标准正弦信号至TIADC采集系统，得到各个频点处的幅频响应误差校正值，然后根据幅频响应误差校正值对新输入信号s(t)进行幅频响应误差校正，这样在提升了整个带宽内的信号采集效果的同时，还提高了校正的精准度。

主权项

1.一种TIADC采集系统的幅频响应误差估计及校正方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、设TIADC系统的ADC个数为M；(2)、依次输入频率为fi的标准正弦信号，i＝1,2,…,N，N为抽样频点个数；获取各抽样频点处的幅频响应误差校正值；(2.1)、设输入频率为fi的标准正弦信号为x(t)，将x(t)输入至TIADC系统，并对x(t)进行采样，得到各ADC的采样数据yk[n]，k＝0,1,…,M‑1；(2.2)、求各ADC采样数据y_k[n]的均值a_k，再从各ADC采样数据y_k[n]中减去均值a_k，从而去除直流偏置，得到即(2.3)、对做FFT变换，获得其幅度谱的最大值|Y_k(j2πf_i)|_max，再利用公式(1)计算频点f_i处的幅频响应误差估计值g_k(2πf_i)；其中，|Y0(j2πfi)|max表示第0个ADC的幅度谱最大值；(2.4)、利用公式(2)得到频点fi处的幅频响应误差误差校正值gkcali(2πfi)；(3)、在TIADC系统中，对新输入信号s(t)进行幅频响应误差校正(3.1)、新输入信号s(t)输入至TIADC系统，经过TIADC系统采样后，得到各ADC的采样数据sk[n]；(3.2)、对各ADC采样数据sk[n]按照TIADC采样规则进行数据拼合，得到TIADC系统的采样数据s[n]；(3.3)、对采样数据s[n]进行FFT变换，获得新输入信号的主频率F0；(3.4)、将主频率F0与抽样频点fi比较，选出最接近F0的抽样频点fi，并选择在步骤(2.4)中获得的该抽样频点fi处的幅频响应误差校正值gkcali(2πfi)(3.5)、求各ADC采样数据s_k[n]的均值b_k，再从各ADC采样数据s_k[n]中减去均值s_k[n]，从而去除直流偏置，得到即(3.6)、利用步骤(3.4)得到的g_kcali(2πf_i)对各个ADC进行校正，其中，第k个ADC的校正结果为(3.7)、将每个ADC的校正结果加上均值b_k，从而恢复原始采样值(3.8)、将skcali[n]按照TIADC系统的采样顺序进行重组，获得原始采样数据s[n]的校正结果scali[n]。