[发明专利]一种切片电池参考片及其标定方法有效
申请号: | 201810602727.5 | 申请日: | 2018-06-12 |
公开(公告)号: | CN109037091B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 杨飞;王建波;戴小俊;朱琛;吕俊 | 申请(专利权)人: | 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 225314 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种切片电池参考片的标定方法,属于光伏领域,其包括:通过QE测试得到整片电池片的短路电流及切片电池片的短路电流,采用电池片检测机台对整片电池片进行测试,调节电池片检测机台的光强,使测得的短路电流与整片电池片的短路电流相同,将此时电池片检测机台的光强作为测试整片电池片的标准光强;将切片电池片和假片连接得到假整片;假整片与整片电池片形状相同;电池片检测机台在标准光强下检测切片电池片,得到切片电池片的开路电压Uoc和填充因子FF。通过该标定方法标定的参考片能够解决切片后由于无切片电池参考片对电池片检测机台进行校准,而导致的切片电池片无法测试及按效率分档问题。本发明还提供了切片电池参考片。 | ||
搜索关键词: | 一种 切片 电池 参考 及其 标定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种切片电池参考片的标定方法,其特征在于,包括如下步骤:通过QE测试得到整片电池片的绝对光谱响应,将整片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到整片电池片的短路电流;通过QE测试得到切片电池片的绝对光谱响应,将切片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到切片电池片的短路电流;采用电池片检测机台对所述整片电池片进行测试,调节电池片检测机台的光强,使测得的短路电流与所述整片电池片的短路电流相同,将此时电池片检测机台的光强作为测试所述整片电池片的标准光强;将切片电池片和假片连接,得到假整片;所述假整片的形状与所述整片电池片的形状相同;将所述假整片放入电池片检测机台中,电池片检测机台在所述标准光强下检测切片电池片,得到切片电池片的开路电压和填充因子。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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