[发明专利]用于检测粒子形态的全偏振激光雷达系统及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201810603149.7 申请日: 2018-06-12
公开(公告)号: CN108957474B 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 狄慧鸽;华灯鑫 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01S17/88 分类号: G01S17/88;G01N15/00
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 韩玙
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种用于检测粒子形态的全偏振激光雷达系统,包括偏振光发生系统、接收系统、偏振分析系统和数据采集处理器四个部分;本发明还公开了一种于检测粒子形态的全偏振激光雷达系统的检测方法,其特征在于,具体按照利用全偏振激光雷达系统探测得到大气后向散射米勒矩阵,然后所述大气后向散射矩阵进行大气粒子形态的检测的步骤。本发明的用于检测粒子形态的全偏振激光雷达系统,采用多方位的线偏振激光和圆偏振激光对气溶胶粒子进行探测,能够实现在大气中气溶胶粒子形状的精细判别和探测;大气中云粒子进行精细测量,用于分析云粒子的冰水相态及卷云中的粒子导向。
搜索关键词: 用于 检测 粒子 形态 偏振 激光雷达 系统 及其 方法
【主权项】:
1.用于检测粒子形态的全偏振激光雷达系统,其特征在于,包括偏振光发生系统、接收系统、偏振分析系统和数据采集处理器(20)四个部分;其中,偏振光发生系统包括激光器(1),沿激光器(1)的光路依次设置有玻片(2)和玻片(3);所述接收系统包括望远镜(4),所述望远镜(4)的光轴与激光器(1)的光轴平行;所述偏振分析系统包括依次在望远镜(4)射出光束设置的准直镜(5),滤光镜(6)和第一偏振分光镜(7);所述第一偏振分光镜(7)的透射光光路上依次设置有第一相位补偿器(8)和第二偏振分光镜(9);所述第一偏振分光镜(7)的反射光光路上依次设置有第二相位补偿器(14)和第三偏振分光镜(15);所述第二偏振分光镜(9)的透射光光路上依次设置有第一汇聚透镜(10)和第一光电探测器(11);所述第二偏振分光镜(9)的反射光光路上依次设置有第二汇聚透镜(12)和第二光电探测器(13);所述第三偏振分光镜(15)透射光光路上依次设置有第三汇聚透镜(16)和第三光电探测器(17);所述第三偏振分光镜(15)的折射光光路上依次设置有第四汇聚透镜(18)和第四光电探测器(19);所述第一光电探测器(11)、第二光电探测器(13)、第三光电探测器(17)和第四光电探测器(19)均与数据采集处理器(20)信号连接。
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