[发明专利]一种含谐衍射面的Alvarez透镜变焦系统在审
申请号: | 201810603543.0 | 申请日: | 2018-06-12 |
公开(公告)号: | CN108845382A | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | 侯昌伦;李泾渭;辛青;臧月 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G02B3/08 | 分类号: | G02B3/08;G02B5/18;G02B15/00;G02B27/00 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 朱月芬 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种含谐衍射面的Alvarez透镜变焦系统,该系统包括第一谐衍射Alvarez透镜和第二谐衍射Alvarez透镜,第一谐衍射Alvarez透镜包含一个基面和工作面,第二谐衍射Alvarez透镜包含一个基面和工作面,第一Alvarez透镜和第二Alvarez透镜面形互补;本发明中的Alvarez透镜组的焦距会发生改变;其也拥有了谐衍射透镜的属性,可以在微光机电系统中作为微光学元件,并且在一定程度上克服衍射器件存在大色差的缺点。 | ||
搜索关键词: | 透镜 衍射 透镜变焦 基面 微光机电系统 色差 微光学元件 透镜面形 衍射器件 衍射透镜 焦距 透镜组 | ||
【主权项】:
1.一种含谐衍射面的Alvarez透镜变焦系统,包括第一谐衍射Alvarez透镜(1)和第二谐衍射Alvarez透镜(2),第一谐衍射Alvarez透镜(1)包含一个基面(1‑1)和工作面(1‑2),第二谐衍射Alvarez透镜(2)包含一个基面(2‑1)和工作面(2‑2),其特征是:第一Alvarez透镜(1)和第二Alvarez透镜(2)面形互补;其中所述的每个谐衍射Alvarez透镜的工作面由Alvarez透镜切割得到;其中Alvarez透镜的表面多项式方程为:其中A表示为多项式系数;Alvarez透镜产生焦距f为:2δ为两个Alvarez透镜之间的移动的距离,n为Alvarez透镜的材料折射率;Alvarez透镜的相位差与光程差的关系是:其中为相位差,λ为波长,Δδ为光程差;将Alvarez透镜去除相位差为2π的整数m倍,剩余的部分便是光程差为2π的m倍的谐衍射Alvarez透镜组的工作面;m≥2;所述的谐衍射Alvarez透镜组的基面满足光程差为2π的m倍。
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