[发明专利]对膜进行蚀刻的方法在审
申请号: | 201810614198.0 | 申请日: | 2018-06-14 |
公开(公告)号: | CN109087854A | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 中込素子;佐藤耕一 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01L21/67 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本公开涉及对膜进行蚀刻的方法,能够减少在校准流量控制器后被依次处理的被加工物之间的膜的蚀刻的结果之差。在一个实施方式的方法中,根据正在向腔室供给第一气体时的腔室的压力上升率来校准第一气体用的流量控制器。接着,向腔室供给第二气体。接着,向腔室供给包含第一气体和第二气体的混合气体。接着,利用包含第一气体和第二气体的混合气体来从被加工物的膜生成反应生成物。反应生成物升华并且被去除。 | ||
搜索关键词: | 腔室 蚀刻 反应生成物 流量控制器 被加工物 混合气体 压力上升 依次处理 膜生成 校准 去除 升华 | ||
【主权项】:
1.一种对膜进行蚀刻的方法,使用处理系统来蚀刻被加工物的膜,其中,所述处理系统具有第一处理装置和第二处理装置,所述第一处理装置具有:第一腔室主体,其提供第一腔室;载物台,其设置于所述第一腔室内;气体供给部,其向所述第一腔室供给第一气体和第二气体,并且具有用于控制该第一气体的流量的流量控制器,该第一气体和该第二气体与所述膜发生反应而形成反应生成物;排气装置,其对所述第一腔室进行排气;以及阀,其连接在所述第一腔室与所述排气装置之间,所述第二处理装置具有:第二腔室主体,其提供第二腔室;以及加热器,其在所述第二腔室内对被加工物进行加热,所述方法包括:校准所述流量控制器的工序,在该工序中,根据在关闭所述阀并且被该流量控制器调整了流量的所述第一气体正在向所述第一腔室供给的状态下的、所述第一腔室的压力的上升率,来获取所述第一气体的流量的测定值,使用该测定值来校准所述流量控制器;向所述第一腔室供给所述第二气体的工序;对所述第一腔室进行排气的工序;在所述载物台上没有载置物体的状态下向所述第一腔室供给包含所述第一气体和所述第二气体的混合气体的工序;在所述被加工物载置于所述载物台上的状态下向所述第一腔室供给包含所述第一气体和所述第二气体的混合气体,由此从所述膜形成所述反应生成物的工序;以及在将具有所述反应生成物的所述被加工物收容于所述第二腔室的状态下,对具有所述反应生成物的所述被加工物进行加热,由此去除所述反应生成物的工序。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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