[发明专利]二维材料平均片径检测方法、装置及数量获取方法、装置有效
| 申请号： | 201810620225.5 | 申请日： | 2018-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN109269429B | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 蒋永华;相喜;李春荣;栗建民 | 申请（专利权）人： | 苏州高通新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 朱振德 |
| 地址： | 215100 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种二维材料平均片径检测方法、装置及数量获取方法、装置。本发明通过获取二维材料分散液中单位体积内二维材料的数量，结合二维材料分散液中单位体积内二维材料的质量可得每个二维材料的平均质量，再根据二维材料最小重复结构单元所独立具有的摩尔质量可以得出构成每个二维材料的最小重复结构单元的数量，最后根据每个最小重复结构单元的面积以及二维材料的平均层数即可得到二维材料的平均面积，进而计算出二维材料的平均片径。该方法仅需要测量二维材料分散液中单位体积内二维材料的数量，其他参数为已知的或者通过简单的现有技术可测量得到，因此本发明的二维材料平均片径检测方法简单准确、成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 材料 平均 检测 方法 装置 数量 获取 | ||
【主权项】：
1.一种二维材料平均片径的检测方法，其特征在于，包括：将二维材料加入溶液中并混合均匀形成二维材料分散液；获取所述二维材料分散液单位体积内的二维材料数量；获取所述二维材料分散液单位体积内的二维材料质量、平均层数以及所述二维材料的最小重复结构单元的物理参数；根据所述单位体积内的二维材料数量、质量、平均层数以及二维材料的最小重复结构单元的物理参数计算出二维材料的平均片径；其中，所述二维材料的最小重复结构单元的物理参数包括二维材料的最小重复结构单元所独立具有的摩尔质量、二维材料的最小重复结构单元的面积。
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