[发明专利]微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间数字化方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810620474.4 申请日: 2018-06-15
公开(公告)号: CN108961419B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 王代华;王坎;高贤永 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G06T19/00 分类号: G06T19/00
代理公司: 重庆华科专利事务所 50123 代理人: 康海燕
地址: 400030 *** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间数字化方法,其利用计算机显微视觉断层扫描技术通过精密定位系统控制显微视觉系统对显微视场空间断层扫描并获得断层扫描图像;通过断层扫描图像结合对应的精密定位系统运动步长重构断层扫描图像的三维空间;通过栅格化、栅格数值化技术获取三维断层视场空间的数字化信息并求取各方向的单目显微视觉系统的显微视场空间的数字化信息;最后通过计算各方向的相交视场空间数字化信息以获取数字化显微视场空间。该方法成功地将微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间信息用数字化信息的形式表示,为微装配系统的三维可视化、路径优化、位姿检测等提供必要条件,有效地降低了微装配系统的操作问题的难度。
搜索关键词: 装配 系统 显微 视觉 视场 空间 数字化 方法
【主权项】:
1.一种微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间数字化方法,其特征在于,所述方法是采用计算机显微视觉断层扫描技术和基于计算机显微视觉断层扫描获得的断层扫描图像的三维显微视场空间数字化重构技术获得微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间数字化信息,包括步骤:(1)采用计算机显微视觉断层扫描技术获取X轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴和任意轴(R轴)方向的断层扫描图像序列以及精密定位系统的位移量序列;(2)根据获得的断层扫描图像序列以及精密定位系统的步长序列,重构X轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴和任意轴(R轴)方向的断层扫描图像相应的三维断层视场空间,计算三维断层视场空间数字化信息,得到各方向上扩展的数字化显微视场空间,并计算微装配系统的显微视觉系统的数字化显微视场空间;步骤(2)具体包括:(2.1)利用X轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴和任意轴(R轴)方向的断层扫描图像序列以及精密定位系统步长序列获取对应的三维断层视场空间序列向量;(2.2)去除各三维断层视场空间以外的信息;(2.3)沿X轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴和任意轴(R轴)方向的三维断层视场空间的栅格化及栅格数值化,获得各三维断层视场空间数字化信息;(2.4)根据X轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴和任意轴(R轴)方向的三维断层视场空间数字化信息分别计算微装配系统在对应方向上的单目显微视觉系统的扩展的数字化显微视场空间;(2.5)沿X轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴、或者X轴和Y轴和Z轴和任意轴方(R轴)向的各单目显微视觉系统的扩展的数字化的显微视场空间的三维空间关系匹配;(2.6)计算微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间的相交视场空间;所述的微装配系统的显微视觉系统的显微视场空间为构成微装配系统的双目、多目正交的显微视觉系统的相交视场空间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学,未经重庆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810620474.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top