[发明专利]算法库的测试方法、装置、存储介质和电子设备有效
| 申请号： | 201810623197.2 | 申请日： | 2018-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN108829600B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 张烨 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种算法库的测试方法、装置、存储介质和电子设备；所述方法包括：当需要进行算法库的测试时，获取电子设备所在场景的影像，获取场景中的特征点并确定特征点的第一位置信息，将影像作为测试数据对算法库进行测试，并确定测试结果当中算法处理的第二位置信息，根据第一位置信息和第二位置信息计算算法库的精度。本申请实施例可以通过场景中特征点的真实位置与经算法库计算输出的位置进行对比，从而计算出算法库的精度，因此可以无需人工查验即可快速高效的对比出不同算法库的性能优劣。 | ||
| 搜索关键词： | 算法 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种算法库的测试方法，应用于电子设备，其特征在于，包括以下步骤：当需要进行算法库的测试时，获取所述电子设备所在场景的影像；获取所述场景中的特征点并确定所述特征点的第一位置信息；将所述影像作为测试数据对所述算法库进行测试，并确定测试结果当中算法处理的第二位置信息；根据所述第一位置信息和所述第二位置信息计算所述算法库的精度。
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