[发明专利]一种平面光波导器件插入损耗的测试方法及装置在审
| 申请号： | 201810626372.3 | 申请日： | 2018-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN108982063A | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 陈钢;李焕;郝寅雷;江湛成;潘文胜 | 申请（专利权）人： | 深圳市慧康精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 李利 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福保街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于光电子技术改进领域，提供了一种平面光波导器件插入损耗的测试方法，包括：S1、对输入光纤输出的光强进行测试获取输出光斑光强的积分和输出功率，得到摄像系统获得输出光斑光强的积分正比于光纤输出功率的比例系数；S2、将待测光波导器件接入测量待测光波导器件的输出光斑光强的积分和输出功率，并计算得到待测光波导器件的损耗，待测光波导器件的损耗为‑log[I(x，y)/I0(x，y)]。简化了光波导器件的测试流程，加快了光波导器件的测试速度，大幅度提高了光波导器件测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 波导器件 测光 光强 光波导器件 输出光斑 测试 平面光波导器件 插入损耗 输出功率 光电子技术 测试方法及装置 光纤输出功率 比例系数 测试流程 摄像系统 输入光纤 测量 输出 改进 | ||
【主权项】：
1.一种平面光波导器件插入损耗的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：S1、对输入光纤输出的光强进行测试获取输出光斑光强的积分和输出功率，得到摄像系统获得输出光斑光强的积分正比于光纤输出功率的比例系数；S2、将待测光波导器件接入测量待测光波导器件的输出光斑光强的积分和输出功率，并计算得到待测光波导器件的损耗，待测光波导器件的损耗为‑log[I(x，y)/I0(x，y)]；其中，I(x，y)为用图像处理软件计算输出光纤的输出光斑的强度在两维平面内的积分，P0为用功率计测量输出光纤的输出功率，I0(x，y)为用图像处理软件计算输出光纤的右端面输出光斑的强度在(x，y)两维平面内的积分。
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