[发明专利]一种用于超高压声速测量的侧向稀疏靶制备方法有效

专利信息
申请号: 201810628453.7 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN108827443B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 李建明;陶彦辉;吴凡;李牧 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01H5/00 分类号: G01H5/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 梁田
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种用于超高压声速测量的侧向稀疏靶制备方法,该制备方法通过把非常薄的样品叠加成足够的厚度,并胶合成整体,然后对该整体侧面进行光学加工和抛光,最后将该抛光后的整体进行处理分片使用,能够实现微米级厚度的薄片样品的侧面(沿厚度方向)抛光处理,且误差小,避免现有技术对薄片样品直接进行加工和抛光,造成样品侧面与其上下两平面的交线处产生较大缺陷,无法满足超高压声速测量的实验要求。
搜索关键词: 一种 用于 超高压 声速 测量 侧向 稀疏 制备 方法
【主权项】:
1.一种用于超高压声速测量的侧向稀疏靶制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,将透明材料加工成n片厚度为d的薄片样品;步骤二,将n片厚度为d的薄片样品均初步加工成比样品设计值大1~2倍的尺寸;步骤三,将上述步骤二中经过初步加工的n片薄片样品叠加封装成为整体;步骤四,将封装好的n片薄片样品整体从中间且垂直样品平面的方向切开;步骤五,对上述步骤四的从中间且垂直样品平面的方向切开的侧面进行研磨、抛光加工,并检测该侧面是否符合要求;步骤六,如果该侧面符合要求,则对步骤五中进行加工后的n片薄片样品整体进行分片处理;反之则重复步骤五;步骤七,取出n片薄片样品整体中靠中间位置的薄片样品,对其进行清洗、晾干操作;步骤八,对步骤七中进行清洗、晾干后的薄片样品进行检测,如果合格则进行后续加工成为侧向稀疏靶,用于超高压声速测量。
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