[发明专利]微电极放大器极阻测量方法有效
申请号: | 201810628772.8 | 申请日: | 2018-06-19 |
公开(公告)号: | CN108802497B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 周志明 | 申请(专利权)人: | 成都泰盟软件有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
地址: | 610000 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 微电极放大器极阻测量方法,包括步骤:获取当前回零补偿值:offsetV;计算极阻测试激励高波:QAVE_H=offsetV+M;计算极阻测试激励低波:WAVE_H=offsetV‑M;判断极阻测试激励高波、极阻测试激励低波是否溢出;若是则出现异常,结束测量;若否,初始化测试次数N,执行S4;延时,获取第一模数采样数据,输出测试激励高波;延时,获取第二模数采样数据,输出测试激励低波;计算极阻值;测试次数减1;判断测试次数是否为0;计算平均极极阻,并通过数据接口输出。避免手动桥平衡的方式,不仅电路简单且使用方便且能保证测量的准确。 | ||
搜索关键词: | 微电极 放大器 测量方法 | ||
【主权项】:
1.微电极放大器极阻测量方法,其特征在于,包括步骤:S1:通过微电极放大器电路获取当前回零补偿值:offsetV;S2:计算极阻测试激励高波:QAVE_H=offsetV+M;计算极阻测试激励低波:WAVE_H=offsetV‑M;M为测试激励信号的半波幅值;S3:判断极阻测试激励高波、极阻测试激励低波是否溢出;若是则出现异常,结束测量;若否,初始化测试次数N,执行S4;S4:延时,获取第一模数采样数据,输出测试激励高波;S5:延时,获取第二模数采样数据,输出测试激励低波;S6:计算极阻值;S7:测试次数减1;S8:判断测试次数是否为0;若是,则转S9;若否,则转S4;S9:计算N次平均极阻值,并通过数据接口输出。
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