[发明专利]一种条状单粒子成像噪声的建模方法有效

专利信息
申请号: 201810629221.3 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN108805887B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 王海涌;田国元;朱宏玉;王可东 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T7/12 分类号: G06T7/12;G06T7/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种条状单粒子成像噪声的建模方法。所述内容包括:单粒子斜向射向成像芯片,会造成沿单粒子直线轨迹的牵连像素均呈高灰度值或饱和。针对条状单粒子进行成像模拟,灰度赋值的对象是沿单粒子直线轨迹的牵连像素,灰度赋值数学模型是以单粒子直线轨迹切割像素的面积或者单粒子直线轨迹被像素裁切的线段的长度作为一个自变量的函数表达式。所述自变量可以选择单粒子直线轨迹切割像素所获得两部分面积的较小者与像素面积的比值,也可以选择单粒子直线轨迹被像素裁切的线段的长度,也可以选择单粒子直线轨迹被像素裁切的线段的长度的平方。用本发明生成的单粒子噪声成像图与仿真图像叠加作为输入,针对相机或星敏感器进行仿真实验,可提高对单粒子干扰成像的工况模拟的相似度,扩大型号测试的工况覆盖范围,从而提高相机或星敏感器嵌入式系统的测试充分性。
搜索关键词: 一种 条状 粒子 成像 噪声 建模 方法
【主权项】:
1.一种条状单粒子成像噪声的建模方法,其特征在于:单粒子斜向射向成像芯片,会造成沿单粒子直线轨迹的牵连像素均呈高灰度值或饱和。
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