[发明专利]痕量金属离子浓度区间预测方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201810630305.9 | 申请日： | 2018-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN109060681B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 朱红求;吴书君;李勇刚;阳春华 | 申请（专利权）人： | 中南大学 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京旭路知识产权代理有限公司 11567 | 代理人： | 瞿卫军 |
| 地址： | 410083 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种痕量金属离子浓度区间预测方法、装置及存储介质。该方法，包括步骤：S1、基于待测液的导数光谱获取所述待测液中痕量金属离子的最佳建模区间，并利用所述最佳建模区间结合主成分分析法提取痕量金属离子光谱信号特征；S2、基于支持向量机模型对所述痕量金属离子光谱信号特征进行处理，获得所述痕量金属离子的浓度区间预测结果。该方法能够准确获知痕量离子所属的浓度区间。所述装置包括显示器、处理器以及存储在存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述所述方法的步骤。所述存储介质其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述所述方法的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 痕量 金属 离子 浓度 区间 预测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种痕量金属离子浓度区间预测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、基于待测液的导数光谱获取所述待测液中痕量金属离子的最佳建模区间，并利用所述最佳建模区间结合主成分分析法提取痕量金属离子光谱信号特征；S2、基于支持向量机模型对所述痕量金属离子光谱信号特征进行处理，获得所述痕量金属离子的浓度区间预测结果。
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