[发明专利]一种SiC晶片的快速双面机械抛光方法在审
申请号: | 201810632617.3 | 申请日: | 2018-06-20 |
公开(公告)号: | CN110614574A | 公开(公告)日: | 2019-12-27 |
发明(设计)人: | 陈秀芳;徐现刚;杨祥龙;彭燕;胡小波;王瑞琪 | 申请(专利权)人: | 山东大学;国网山东省电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02;B24B27/00;C09G1/02 |
代理公司: | 37219 济南金迪知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王楠 |
地址: | 250199 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种SiC晶片的快速双面机械抛光方法,属于晶体材料加工技术领域,方法包括步骤如下:1)、采用抛光机,磨料为金刚石微粉,将金刚石粉、分散剂、水按比例配成抛光液,设定机器转速20‑40rpm,压力为100‑500g/cm2,抛光时间1‑1.5h;2)、采用抛光机,磨料为金刚石微粉,将金刚石粉、分散剂、水按比例配成抛光液,设定机器转速20‑40rpm,压力为100‑200g/cm2,抛光时间0.5‑1.5h。研磨后的晶片表面平整,无异常划痕,总时间1.5‑2.5h,比常规的抛光方法(采用硬质抛光布和上述同样的金刚石抛光液)节约2‑5h。 | ||
搜索关键词: | 抛光 磨料 金刚石微粉 机器转速 金刚石粉 分散剂 抛光机 抛光液 金刚石抛光液 晶体材料加工 晶片表面 双面机械 研磨 常规的 抛光布 划痕 硬质 平整 节约 | ||
【主权项】:
1.一种SiC晶片的快速双面机械抛光方法,包括步骤如下:/n1)、采用抛光机,磨料为金刚石微粉,将金刚石粉、分散剂、水按比例配成抛光液,设定机器转速20-40rpm,压力为100-500g/cm2,抛光时间1-1.5h;/n2)、采用抛光机,磨料为金刚石微粉,将金刚石粉、分散剂、水按比例配成抛光液,设定机器转速20-40rpm,压力为100-200g/cm2,抛光时间0.5-1.5h。/n
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