[发明专利]蜗轮的检查方法有效
申请号: | 201810636879.7 | 申请日: | 2018-06-20 |
公开(公告)号: | CN109099876B | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | R·奇米内罗 | 申请(专利权)人: | 托内利亚费拉罗股份公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人: | 刘卓然 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种蜗轮的检查方法,包括以下步骤:识别待检查的蜗轮(1)的实际齿廓(PR);扫描实际齿廓(PR)以获得测量的齿廓(PM),使用低通滤波器(4)对测量的齿廓(PM)进行过滤,以得到主要齿廓(PP),使用高通滤波器(5)过滤主要齿廓(PP),以此获得表面分析齿廓(SA),从所述表面分析齿廓(SA)计算三个参数(SAa;SAq;SAp),并用预设的阈值(TSa;TSq;TSp)与三个参数(SAa;SAq;SAp)进行比较,以此当至少有一个参数超过了相应的阈值时,不采用该蜗轮。 | ||
搜索关键词: | 蜗轮 检查 方法 | ||
【主权项】:
1.检查蜗轮的方法,包括以下步骤:‑识别待检查的齿轮(1)的实际齿廓(PR),考虑包含齿轮轴线的平面,其中实际齿廓(PR)由齿轮的外侧面与包含齿轮轴线的平面的交点给出,‑通过探针(3)扫描实际齿廓(PR),如此获得测量的齿廓(PM),‑使用具有预设截止频率(fs)的低通滤波器(4)过滤测量的齿廓(PM),以获得主要齿廓(PP),‑使用具有预设截止频率(fc)的高通滤波器(5)过滤主要齿廓(PP),以获得表面分析齿廓(SA),‑计算表面分析齿廓(SA)的中线,‑用以下方程式计算第一误差二次平均参数(SAa):
其中,xi为表面分析齿廓的点与表面分析齿廓的中线的绝对偏差;以及np为评估分析中所考虑的点数,‑用以下方程式计算第二二次误差参数(SAq):
‑用以下方程式计算第三峰值平均参数(SAp):
其中pi是最高点,其与表面分析齿廓的中线的距离高于至少四个相邻点的距离;‑使用相应的预设阈值(TSa;TSq;TSp)比较所述第一、第二和第三参数(SAa;SAq;SAp),以此当所述参数中的至少一个超过相应的阈值时不采用该齿轮。
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