[发明专利]一种校验顶针共面性的治具装置在审

专利信息
申请号: 201810641657.4 申请日: 2018-06-21
公开(公告)号: CN109000593A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 章胜 申请(专利权)人: 上海先方半导体有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 张东梅
地址: 200000 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种校验顶针共面性的治具装置,包括:水平底座;垂直支架,所述垂直支架与所述水平底座垂直;水平支架,所述水平支架与所述垂直支架垂直连接,位于所述水平底座上方且与其平行;顶针夹持器,所述顶针夹持器通过所述水平支架固定于所述水平底座上方;支撑架,所述支撑架设置于所述水平底座与所述水平支撑架之间;以及光源,所述光源设置在顶针夹持器正投影以外,且位于临近所述水平底座位置。
搜索关键词: 水平底座 顶针夹持器 垂直支架 水平支架 顶针 治具装置 校验 共面性 水平支撑架 垂直连接 光源设置 正投影 支撑架 光源 平行 架设 垂直 支撑
【主权项】:
1.一种校验顶针共面性的治具装置,包括:水平底座;垂直支架,所述垂直支架与所述水平底座垂直;水平支架,所述水平支架与所述垂直支架垂直连接,位于所述水平底座上方且与其平行;顶针夹持器,所述顶针夹持器通过所述水平支架固定于所述水平底座上方;支撑架,所述支撑架设置于所述水平底座与所述水平支撑架之间;以及光源,所述光源设置在顶针夹持器正投影以外,且位于临近所述水平底座位置。
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