[发明专利]可调磁体、沉积腔室及用于改变沉积腔室中磁场分布的方法有效
申请号: | 201810643463.8 | 申请日: | 2018-06-21 |
公开(公告)号: | CN109423616B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 何明杰;杨博文;罗司宪;曾顺良;郑文正;锺承芳;薛家麟;庄国彬 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;H01L21/67 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭露一种可调磁体、沉积腔室及用于改变沉积腔室中磁场分布的方法。在一实施例中揭露了一种用于调整沉积腔室中磁场分布的方法。此方法包含以下操作:提供一靶材磁场分布。移除沉积腔室中的多个第一固定磁体。用多个第二磁体各别替换多个第一固定磁体的每一个。执行以下操作中的至少一个:调整多个第二磁体中的至少一个的一位置,以及调整多个第二磁体中的至少一个的一尺寸。在沉积腔室中量测一磁场分布,并且将在沉积腔室中量测的磁场分布和靶材磁场分布进行比较。 | ||
搜索关键词: | 可调 磁体 沉积 用于 改变 腔室中 磁场 分布 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于改变一沉积腔室中一磁场分布的方法,其特征在于,该方法包含:提供一靶材磁场分布;移除该沉积腔室中的多个第一固定磁体;用多个第二磁体各别替换所述多个第一固定磁体的每一个;执行以下操作中的至少一个:调整所述多个第二磁体中的至少一个的一位置,以及调整所述多个第二磁体中的至少一个的一尺寸;在该沉积腔室中量测一磁场分布;以及比较在该沉积腔室中量测的该磁场分布和该靶材磁场分布。
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